電子顕微鏡フィールドサービスエンジニア(九州勤務)
Full-time
Description
<p style="text-align:left"><b>Work Schedule</b></p>Standard (Mon-Fri)<p style="text-align:inherit"></p><p style="text-align:left"><b>Environmental Conditions</b></p>Some degree of PPE (Personal Protective Equipment) required (safety glasses, gowning, gloves, lab coat, ear plugs etc.)<p style="text-align:inherit"></p><p style="text-align:left"><b><u>Job Description</u></b></p><p style="text-align:inherit"></p><h2><b>【サービスエンジニア経験・機械の保守管理経験のある方優遇】電子顕微鏡のメンテナンス・据付など</b></h2><div><p><u><b>具体的な仕事内容</b></u></p><p>世界トップクラスのシェアを誇る、サーモフィッシャー・サイエンティフィック。<br />その日本法人である当社は、日本の材料科学や電子デバイスの研究・開発などの分野で最先端科学をサポートしています。<br /><br />①定期メンテナンス、トラブル対応<br />・電子顕微鏡、X線光電子分光装置、電気不良解析装置の性能を最大限に発揮するための定期的なメンテナンス<br />・消耗品の交換や診断、ソフト・ハードウェアのトラブル対応<br /><br />②電子顕微鏡、X線光電子分光装置、電気不良解析装置の設置(企画~据付)<br />・新たな機器や装置の導入時の製品仕様検討<br />・営業と共にお客様先へ出向き、設置レイアウトの検討などのサポート<br /><br />\魅力ポイント/<br />■夜勤や急な呼び出しナシ!<br />年休122日以上・土日祝休み!お客様からの問い合わせは受付センターに集約されているため、休日や深夜に直接連絡が入ることはありません。また、各エンジニアのスケジュールを考慮して案件が振り分けられるため、一人に負担が集中しません。<br /><br />■サポート体制も万全<br />当社の製品は現在、国内に900台以上が稼働中。小さな案件には基本的に1人で対応しますが、大規模な案件には2~3名のチームで対応します。現場で何かあっても、いつでも上司や先輩に相談できますのでご安心ください。<br /><br />■充実の研修プログラム<br />入社後3カ月~1年は先輩に同行し、基礎を学びます。不具合の原因を論理的に導き出す思考トレーニングなどを実施し、サービスエンジニアとしての基盤を築いていきます。その後は、社内勉強会やe-ラーニングを受講し、3年かけてプロフェッショナルを目指します。<br /><br />\キャリアパスについて/<br />キャリアは、実務はもちろん、海外研修および国内外のプロジェクト参加を通じ、技術の専門性を高めることからスタートしていただきます。<br />幅広い経験を通じ、マネジメントを目指す、海外のポジションにチャレンジする、サービスコントラクトビジネスに携わるなど幅広いキャリアパスを求めることが可能です。</p></div><p></p><div><div><p><u><b>チーム組織構成</b></u></p><p>分析機器や半導体装置メーカー、機械設計や回路設計など、前職は様々!<br />電気電子、機械の基本的な知識があれば活躍できます!</p></div></div><div><h2></h2><h2><b>対象となる方</b></h2><div><p>【業界・職種未経験歓迎・第二新卒歓迎】理系出身の方◆大学卒・高専卒・専門卒以上</p><p><必須条件><br />■大学卒・高専卒・工業系高校・専門学校卒以上<br />■理系出身の方<br /><br /><歓迎条件><br />■製品問わずサービスエンジニアの実務経験がある方<br />■理化学機器・分析機器の使用経験がある方<br />■装置のネットワークへの接続及びPC操作のできる方<br />■半導体及び半導体製造装置業界での実務経験がある方<br />■英語に抵抗がなく、学びたいという姿勢をお持ちの方<br />※製品マニュアルが英語なので、技術系の英語が中心です。<br />※入社後のトレーニングにてスキルアップ可能です。</p><p></p><h2><u><b>扱う製品一例</b></u></h2><div><p>■<u>透過電子顕微鏡 (TEM)</u>:観察対象に電子線をあて、それを透過してきた電子が作り出す干渉像を拡大して観察するタイプの電子顕微鏡<br />■<u>走査電子顕微鏡(SEM)</u>:電子線を絞って電子ビームとして試料に照射し、そこから放出される二次電子などを検出することで、試料を観察するタイプの電子顕微鏡<br />■<u>集束イオンビーム装置(FIB)</u>:イオンを電界で加速したビームを細く絞ったもので試料を加工、観察<br />■<u>X線光電子分光装置(XPS)</u>:観察対象にX線を照射し、測定された光電子スペクトルから表面に存在する元素を分析する装置<br />■<u>電気不良解析装置(EFA)</u>:電気的に故障しているデバイスの故障位置を非破壊で特定する装置</p></div></div></div><p></p><p></p><p></p><p></p>
Pipeline
Retrospective Cohort EnrollmentN/A
Technical Evaluation of Brahms PCT DirectN/A
Blood sample collectionN/A
Blood samplingN/A
RimegepantN/A